| Das eBook Angewandte Mikroelektronik wurde von Hans Lohninger zur Unterstützung verschiedener Lehrveranstaltungen geschrieben. Weitere Informationen finden sie hier. |
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Home Anhang Listing: Minimalsystem Includes RAM-Test |
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RAM-Test
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;---- Experiment: RAM-Test -------------------------
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.GLOBAL RAMTST
RAMTST: IN A,(DIPSW) ;Testadresse lesen
LD H,A
LD L,0 ;HL enthält Adresse
IN A,(PIN) ;Wert von PIN einlesen
LD (HL),A ;Wert in RAM speichern
LD A,(HL) ;gespeich. Wert lesen
OUT (POUT),A ;Wert an POUT ausgeben
JR RAMTST ;Schleife
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